Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统[产品打印页面]

点击看大图

如果您对该产品感兴趣的话,可以

产品名称: Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统

产品型号: C11295

产品展商: 日本Hamamatsu滨松光子学

产品价格: 0.00 元

折扣价格: 0.00 元

产品文档: 无相关文档

简单介绍

Multipoint NanoGauge 膜厚测量系统 C11295 是一种利用光谱干涉法的薄膜膜厚测量系统。作为半导体制造过程的一部分，它旨在测量薄膜厚度，以及用于对安装在半导体制造设备上的 APC 和薄膜进行质量控制。允许实时进行多通道测量，可在薄膜表面同时进行多通道测量和多点测量。同时，它还可以测量反射率（透射率）、物体色及其随时间的变化。

Hamamatsu滨松光子学膜厚测量系统 的详细介绍

型号	C11295-XX^*1
可测量的薄膜厚度范围（玻璃）	20 nm 至 100 μm^*2
测量重现性（玻璃）	0.02 nm^{3 4}
测量精度（玻璃）	±0.4%^{4 5}
光源	氙光源 ^*6
测量波长	320 nm 至 1000 nm
光斑尺寸	约 φ1 mm^*4
工作距离	10 mm^*4
可测量层数	*多 10 层
分析	FFT 分析、拟合分析
测量时间	19 ms/point^*7
光纤连接器形状	SMA
测量点数	2 至 15
外部控制功能	以太网
接口	USB 2.0（主机 - 计算机） RS-232C（光源 - 计算机）
电源	AC100 V 至 AC240 V，50 Hz/60 Hz
功耗	2 通道时：大约 350 VA，15 通道时：约 500 VA

滨松光子学株式会社总部位于静冈县滨松市，是一家主要产品包括光电倍增管、光学半导体器件以及图像处理和测量设备的制造商。静冈县内有七个生产基地，其中包括位于滨松市的总工厂。
1948年成立时名为东海电子研究所，1953年成立滨松电视株式会社，开始生产将光转换为电信号并检测电信号的光电管。1983年，公司名称变更为滨松光子学株式会社，并于1998年3月在东京证券交易所**部上市，至今仍在那里。
公司业务大致分为电子管业务、固态业务、系统业务、激光业务四大类。所有这些公司主要开发、制造和销售“发光”、“捕获光”和“测量光”的产品。具体产品包括光电二极管等光学传感器、LED 等光源以及配备 CMOS 和 CCD 的高性能相机。特别是在光传感器领域，光电倍增管自公司成立以来一直是代表产品，并为获得诺贝尔物理学奖做出了贡献，多年来不断发展，目前在全球市场占有率高达约90%。此外，光半导体器件、测量设备等种类繁多的产品被广泛应用于医学、工业、分析、测量、学术界等领域，被世界各地的制造商和研究机构所使用，正在全球扩张，海外市场约占其销售额的70%。

产品留言

标题

联系人

联系电话

内容

验证码

点击换一张

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!